Stephan Irgenfried nahm an der Konferenz „Optical Characterization of Materials (OCM 2013)“ vom 6.03 bis 7.03 am Fraunhofer IOSB in Karlsruhe teil.
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Stephan Irgenfried nahm an der Konferenz „Optical Characterization of Materials (OCM 2013)“ vom 6.03 bis 7.03 am Fraunhofer IOSB in Karlsruhe teil.
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